Renata
Tyszko
Student, Uniwersytet
Zielonogórski
Temat: Wskaźniki zdolności jakościowej- zadanie
Proszę o pomoc w rozwiązaniu zadania , ponieważ nie mogę wpaść na rozwiązanie, a w sobotę egzamin.Wielkość X z liniami tolerancji DLT = 94 i GLT= 106, należy w danym procesie wytwarzania do krytycznych. Dlatego podjęto decyzję o jej nadzorowaniu za pomocą kart kontrolnych. Zmienność X jest powodowana czynnikami pochodzącymi od samego procesu, a także z otoczenia oraz od urządzeń. Należy określić wielkość wskaźników zdolności jakościowej, wykreślić histogram, wyznaczyć linie kontrolne wybranej karty.
Dane dodatkowe z obliczeń:
k=20 ; n=5 ; Xśr= 109,92 ;R śr= 3,665
Postanowiłam skorzystać z Karty X- R i tu zaczyna się problem bo z obliczeń wychodzą inne wyniki dla DLT i GLT niż podane w treści zadania DLT=107,8 ; GLT=112,03 i nie wiem które linie wziąć do wykresu te obliczone czy te podane w treści.Poza tym żeby obliczyć wskaźnik Cp potrzebuję T, a nie mam podanej w zadaniu żadnej tolerancji.( 1 sigma wyliczona = 1,576). Sugerując się ze na zmienność wpływają urządzenia potrzebne by było jeszcze Cpm do którego obliczenia także brakuje mi danych.
Proszę o pomoc i sugestię , może skorzystałam z niewłaściwej karty lub niewłaściwie podchodzę do zadania.
Dziękuję