konto usunięte
Robert
Kalka
Przedsiębiorca,
pasjonat.
Temat: UCL i LCL dla karty typu P w zależności od wielkości próbki
gdzie p (z kreską) jest średnią niezgodnych jednostek (przynajmniej 20 próbek).
Tomasz
Greber
Trener, konsultant,
właściciel firmy
PROQUAL
Temat: UCL i LCL dla karty typu P w zależności od wielkości próbki
Na pewno takie?A gdzie tu n?
Moim zdaniem powinno być tak:
Tomasz Greber edytował(a) ten post dnia 30.11.10 o godzinie 13:19
Robert
Kalka
Przedsiębiorca,
pasjonat.
Temat: UCL i LCL dla karty typu P w zależności od wielkości próbki
Oczywiście - przepraszam - palcówka.konto usunięte
Temat: UCL i LCL dla karty typu P w zależności od wielkości próbki
Bardzo dziękuje za udzielone odpowiedzi.
Tomasz
Greber
Trener, konsultant,
właściciel firmy
PROQUAL
Temat: UCL i LCL dla karty typu P w zależności od wielkości próbki
Warto jeszcze pamiętać, że to "n" we wzorach może też być n średnim - zależy od podejścia przy próbkach różnolicznych.
Maciej
B.
I focus on
continuous and
mutual development
of me and pe...
Temat: UCL i LCL dla karty typu P w zależności od wielkości próbki
p. Tomaszu,co to jest ta frakcja wyrobów niezgodnych w próbce p?
Tomasz
Greber
Trener, konsultant,
właściciel firmy
PROQUAL
Temat: UCL i LCL dla karty typu P w zależności od wielkości próbki
To takie wzniosłe nazwanie odsetku wyrobów niezgodnych w próbce - liczone jako ilość wyrobów niezgodnych w próbce dzielona na ilość wyrobów w próbce.
Maciej
B.
I focus on
continuous and
mutual development
of me and pe...
Temat: UCL i LCL dla karty typu P w zależności od wielkości próbki
ok dziękijuż znalazłem wzór:
p=np/p.
hm..
faktycznie trochę wzniosłe słowo, bo frakcję kojarzę ze statystyki i oznaczała częstość (ilość) czyli jakby np albo p.
Ale znowu doczytałem, że w matematyce (inaczej częstość cząstkowa) oznacza właśnie stosunek i tu by się zgadzało :)
eh.. ta etymologia...
tak czy siak dzięki za sprecyzowanie.
Podobne tematy
-
SPC » Karty kontrolne dla atrybutów -
-
SPC » CPK, karty kontrolne procesu dla krótkich serii ???????? -
-
SPC » karty kontrolne a analiza zdolności jakościowej -
-
SPC » Zdolność procesu dla danych atrybutowych. -
-
SPC » SPC dla procesów szycia -
-
SPC » Ustalenie granic kontrolnych i linii centralnej dla kart X-R -
Następna dyskusja: