Temat: SPC w montażu elektroniki
Na pierwszy rzut oka w produkcji elektroniki stosowanie SPC nie jest tak „oczywiste” jak w mechanice, gdzie typowo można mierzyć charakterystyki wymiarowe, materiałowe itp.
Najpierw należy zidentyfikować, jakie parametry procesu lub produktu należy kontrolować, aby zapewnić wyrób zgodny z wymaganiami.
Następnie jeżeli jakieś charakterystyki procesu / produktu są bardzo ważne, mają wpływ na bezpieczeństwo, wymogi prawa itp. to w takim przypadku należy dążyć do kontroli 100% za pomocą urządzeń technicznych (testery) i poka-yoke. Nie zalecam wtedy SPC, bo bazuje ono na próbkowaniu i z „natury” nie jest zdolne do wykrywania pojedynczych zdarzeń. Takie przykładowe charakterystyki to: wykonanie testu izolacji, parametry testu izolacji, obecność oznakowania wymaganego prawem (CE, UL), lutowanie stopem zgodnym z RoHS itp.
Pozostałe charakterystyki - należy się zastanowić czy koszty wdrożenia SPC i jego utrzymania coś realnie wniosą do poprawy procesu.
Co do parametrów procesu w elektronice, których monitorowanie za pomocą SPC ma jakiś sens (moim zdaniem) wymieniłbym kilka:
1.
Ilość topnika (wagowo) na PCB natryśniętego w procesie lutowania na fali. Pomiar może być realizowany „na mokro” i „na sucho”. Nadmierna ilość topnika to źródło zanieczyszczeń jonowych (dotyczy to także technologii lutowania no-clean) – karta I-MR.
2.
Poziom zanieczyszczeń jonowych na zmontowanych pakietach elektroniki, typowo wg.
IPC-TM-650 2.3.25
http://www.ipc.org/4.0_Knowledge/4.1_Standards/test/2-...
polecam kartę I-MR ew. X-R (ale szkoda próbek).
3.
Jeżeli jest stosowany proces zalewania elektroniki żywicami dwuskładnikowymi to koniecznie powinno monitorować się stosunek żywicy do utwardzacza (kartą X-R), ewentualnie czas żelowania lub ilość żywicy (metoda pośrednią poprzez wagę) (karta X-R)
4.
Można także liczyć braki (kartami do pomiarów atrybutowych – np, p lub ew. c.
Można monitorować ilość punktów lutowniczych niewłaściwie zalutowanych (zwarcia, brak cyny, niedolanie) i za pomocą karty p lub np. badać czy ta ilość wad się zwiększa czy jest stabilna. Ja stosując taką kartę widziałem zwiększenie ilości wad powyżej limitu kontrolnego niecałą godzinę wcześniej niż operator agregatu lutującego dostrzegł, że coś się dzieje z maszyną.
5.
To co polecam, to stosowanie histogramów w analizie wyników testów (jakiś pomiarów cech produktów) i porównanie ich z limitami na testach. Bardzo często widziałem (we wielu polskich firmach), że wyniki pomiarów vs limity jasno wskazują na niewłaściwie określone limit na testach lub wręcz błędy w projektach wyrobów, skutkujące większym odpadem na teście, gdzie wszystkie elementy są w tolerancji, a wyrób nie przechodzi testów.
Na koniec:
Ważne jest także, jak te dane do SPC są zbierane, ręcznie czy pomiar autmatyczny, wpis do bazy danych i późniejsza analiza czy ręcznie na papierze. A najważniejsze jest to co zrobi kierownictwo mając te dane, czy będzie poprawiać proces czy będzie na tej podstawie premie ustalać… (jak to drugie, to odpuść sobie SPC, nie będzie działać).
Co do literatury to polecam podręcznik referencyjny ISO/TS169494 – SPC. Zawiera fajny opis jak wdrażać SPC oraz wzory i przykłady dla kart kontrolnych.