GoldenLine
Zaloguj się
Michał Klama

Michał Klama Ponar Wadowice S.A.
Dyrektor ds Jakości
Pełnomocnik ds Sy...

Temat: CPK, karty kontrolne procesu dla krótkich serii ????????

Witam
Proszę o jakieś wskazówki doświadczonego grona. Ogólnie mam problem z wdrożeniem kart kontrolnych procesu oraz liczenia zdolności procesu CPK dla krótkich serii produkcyjnych, których wykonanie danej operacji na przykład seria produkcyjna liczy 100 szt. operacja szlifowania całej serii to 2 godziny warunek krytyczny na rysunku to walcowości, której pomiar w laboratorium na przyrządzie do kołowości trwa 20minut. Jak to ogarnąć? I jak na bieżąco przekazywać informację do klienta. Założyć pomiar tylko powiedźmy pierwszej i ostatniej sztuki i zbierać wyniki dla kolejnych serii, które mogą się pojawić za na przykład miesiąc na zasadzie karty kontrolnej XR dla której z boku liczone jest CPK.?

Oczywiście po uprzednim wyznaczeniu zdolności procesu na wymaganym poziomie powyżej 1,33 przy serii prototypowej w której minimum 31 próbek zostanie zmierzonych.

Bardzo proszę o pomoc.
Link do wypowiedziLink
Robert Kalka

Robert Kalka Przedsiębiorca,
pasjonat.

Temat: CPK, karty kontrolne procesu dla krótkich serii ????????

Witam i przepraszam za "poślizg".

Z tego co piszesz wynika, że problemem jest pomiar - szlifowanie sztuki trochę ponad minutę - pomiar sztuki 20 minut.

Aby liczyć Cpk powinieneś mieć minimum 20-25 pomiarów (około 7 godzin mierzenia).
O klasycznym SPC zapomnij - przecież musisz czekać na wynik pomiaru aby podjąć decyzję o ingerencji (lub braku ingerencji) w proces - stać cię na 20 minutowe przestoje?

Sam pomysł łączenia kliku serii na jednej karcie kontrolnej jest ok. Ale pamiętaj, że dla każdej serii będziesz ustawiał maszynę na nowo, a różnice w ewentualnych ustawieniach przeniosą się na wartość Cpk, czyli prawdopodobnie Cpk z połączonych danych będzie mniejsze niż w każdej serii oddzielnie.

Metrologiem nie jestem, ale wydaje mi się, że 20 minut na pomiar kołowości to lekka przesada. Nie ma innych metod / urządzeń, ile taka nowość by kosztowała, czy klient ci za to zapłaci, czy warto inwestować w kontekście pomiarów innych detali?

Ok - metrologiem nie jestem, więc może inaczej się nie da. Wynegocjuj więc z klientem inną metodę odbioru partii (pomiar 5 losowych detali, pomiar co 20 sztuki, ...).
Link do wypowiedziLink
Michał Klama

Michał Klama Ponar Wadowice S.A.
Dyrektor ds Jakości
Pełnomocnik ds Sy...

Temat: CPK, karty kontrolne procesu dla krótkich serii ????????

Dzięki za odpowiedź. Walcowe mierzona jest na talyrondzie przyrządzie do błędów kształtu i położenia z najwyższej półki. Pomiar trwa tak długo że względu na poziomowanie i centrów anie sztuk. Kluczem sprawy jest wykazanie zdolności procesu poprzez wyznaczenie cpk więc kolejny pomysł jaki mi przychodzi do głowy to pobranie pierwszych pięciu sztuk po rozpoczęciu partii i na jej przykładzie zaliczać cpk z kolejnych serii było by to w miarę logiczne i pokazywało by że proces jest stabilny i zdolny. Oczywiście seria dalej byłaby wykonywana bez postoju na który sobie pozwolić nie możemy. Problemem czasem jest też ilość sztuk w seriach produkcyjnych czasem bywają mniejsze niż 10 czasem 20 sztuk co wtedy.
Link do wypowiedziLink
Robert Kalka

Robert Kalka Przedsiębiorca,
pasjonat.

Temat: CPK, karty kontrolne procesu dla krótkich serii ????????

Witam.

Tak mogło by być, pod warunkiem, że do liczenia Cpk zastosujesz odchylenie standardowe liczone z rozstępów (R średnie/d2 lub R średnie *d2 - w zależności jakimi tablicami operujesz), a nie odchylenie "excelowskie" (wzór z pierwiastkiem).
Dzięki temu wyeliminujesz z Cpk zmienność wynikającą z "przezbrajania" maszyny.

Fizycznie wyglądało by to tak:
- Mierzysz 5 pierwszych sztuk z serii, wartości nanosi na kartę (każdy punkt karty X to średnia z 5 pomiarów, karty R, rozstęp z 5).
- Liczysz R średni, z niego odchylenie i Cpk.
- Mierzysz 5 pierwszych sztuk z kolejnej serii, wartości nanosi na kartę.
- Liczysz nowy R średni, z niego odchylenie i Cpk.
- Mierzysz 5 pierwszych sztuk z kolejnej serii, wartości nanosi na kartę.
- Liczysz nowy R średni, z niego odchylenie i Cpk.
- ...
Początek (3, 4 pierwsze cykle) obarczone są sporym błędem (zbyt mało danych), ale potem (o ile Cpk wychodzi odpowiednio wysokie) to już rutyna.
Link do wypowiedziLink
Michał Klama

Michał Klama Ponar Wadowice S.A.
Dyrektor ds Jakości
Pełnomocnik ds Sy...

Temat: CPK, karty kontrolne procesu dla krótkich serii ????????

Ok czyli nie wyznaczamy ppk bo byłoby to dla nas zabójstwo biorąc pod uwagę iż wielkości w poszczególnych partiach mogą być zdolne i mieć cp ok ale być rozrzucone porównując poszczególne podgrupy co w efekcie dla wszystkich pomiarów z podgrup dawałoby słaby współczynnik ppk.

Więc biorąc Twoją poradę pod uwagę wyznaczamy cpk z pierwszych 5 sztuk w partii na zasadzie policzenie odchylenia z rozstępu/d2 i podstawienia do wzoru na cpk
a przy kolejnej partii obliczam odchylenie z nowego r średniego ze średnich z wyników pierwszej piątki i drugiej(czyli tzw średnia ze średnich) i podstawienia do wzoru na cpk.

Dzięki jeszcze raz za zaangażowanie i pomoc.
Link do wypowiedziLink
Robert Kalka

Robert Kalka Przedsiębiorca,
pasjonat.

Temat: CPK, karty kontrolne procesu dla krótkich serii ????????

Dokładnie.
Link do wypowiedziLink
Michał Klama

Michał Klama Ponar Wadowice S.A.
Dyrektor ds Jakości
Pełnomocnik ds Sy...

Temat: CPK, karty kontrolne procesu dla krótkich serii ????????

Hej mam jeszcze jedno pytanie. Przygotowaliśmy sobie szymel karty xr z wyliczeniem cpk ze średniego rozstępu tak jak nam poradziłeś. Problem powstał jak podstawiamy dane z procesu ponieważ wartości cpk nijak nie pasują do tych które otrzymaliśmy wyliczając cpk w minitabie. Zastanawiamy się bo posprawdzaliśmy wszystkie wzory wyglądają w porządku. Mamy przy tym pomiarze do czynienia z tolerancji jednostronną warunek walcowości od 0 do 5mikronów . W minitabie podaje się górną tolerancję 5 i target 0 wtedy wynik cpk jest 2.45 po podaniu danych do karty xr cpk wyszło jedynie1.45Ten post został edytowany przez Autora dnia 14.06.16 o godzinie 17:36
Link do wypowiedziLink
Robert Kalka

Robert Kalka Przedsiębiorca,
pasjonat.

Temat: CPK, karty kontrolne procesu dla krótkich serii ????????

Przy tolerancji jednostronnej - w tym przypadku mamy jedynie tolerancję górną, Cpk liczymy ze wzoru: Cpk=(TG-X)/3*s, gdzie oczywiście s liczymy ze średniego R.

Podeślij mi dane na priva - wprowadzę do swojego softu i sprawdzę co i jak.
Link do wypowiedziLink
« Wróć do tematów
Odpowiedz

Podobne tematy


Następna dyskusja:

Karty kontrolne dla atrybutów




Wyślij zaproszenie do
Anuluj