Temat: Współczynniki zdolności procesu dla rozkładów innych niż...

Witam serdecznie,

1. Zwracam się z prośbą o pomoc w ustaleniu, na jakiej zasadzie dobiera się z pośród niżej wymienionych najbardziej optymalny rozkład dla danych nieparametrycznych. Po czym rozpoznać, który będzie odpowiedni i jednocześnie zapewni wysoki wskaźnik Ppk? Poniżej przykładowe wyniki z programu Minitab 17 dla pomiarów chropowatości powierzchni gdzie Ra0,8 .

Goodness of Fit Test

Distribution AD P LRT P
Normal 1,134 <0,005
Box-Cox Transformation 0,555 0,140
Lognormal 0,746 0,046
3-Parameter Lognormal 0,414 * 0,016
Exponential 7,859 <0,003
2-Parameter Exponential 0,315 >0,250 0,000
Weibull 1,130 <0,010
3-Parameter Weibull 0,353 0,478 0,000
Smallest Extreme Value 1,625 <0,010
Largest Extreme Value 0,774 0,041
Gamma 0,894 0,023
3-Parameter Gamma 0,367 * 0,003
Logistic 1,040 <0,005
Loglogistic 0,738 0,031
3-Parameter Loglogistic 0,443 * 0,011
Johnson Transformation 0,142 0,968

2. Co w przypadku jeśli mamy jednostronną granicę specyfikacji równą zero? Przykładowo dla pomiarów prostoliniowości 31 szt. tłoczków uzyskaliśmy wyniki w setnych częściach mikrometra, natomiast wg wymagań klienta prostoliniowość musi być zachowana z tolerancją do 3 µm. Oczywistym jest że nigdy nie uzyskamy ujemnych wartości dla tej charakterystyki, ale im niższe te wartości będą tym lepiej. Zatem pytanie brzmi jak określić granice specyfikacji aby proces - im bliżej przesunięty względem wartości zerowej, do której zmierzamy posiadał coraz wyższy wskaźnik Ppk?

Jeśli ktoś z Państwa miał już do czynienia z podobnymi problemami, będę serdecznie wdzięczny za jakąkolwiek pomoc.

Pozdrawiam
Piotr Krzysiak